振動試驗(yàn)臺用途
適用于電子元器件、組件、機(jī)電產(chǎn)品、儀器儀表、電子玩具、及食品包裝，等行業(yè)實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線上對樣品進(jìn)行低頻振動試驗(yàn)。如品質(zhì)鑒定試驗(yàn)，可靠性鑒定試驗(yàn)，耐久試驗(yàn)，疲勞試驗(yàn)，振動防治改善等。模擬產(chǎn)品在制造、組裝、運(yùn)輸及使用過程中所遭受的振動環(huán)境，以評定其結(jié)構(gòu)的耐振性、可靠性和完好性。
振動試驗(yàn)臺系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)：
激振力：正弦：1960N（200kg.f）
頻率范圍：垂直臺：5Hz~4500Hz
額定加速度：980m/s2（100g）
額定速度：1.75m/s
額定位移：25mm（p-p）
大載荷：70kg
運(yùn)動部件有效質(zhì)量：垂直臺：2kg
電源：3相4線380VAC10%50Hz
消耗功率：5.5kVA
連續(xù)工作時(shí)間：8h
工作環(huán)境：溫度0~40℃
濕度90%RH（25℃）
保護(hù)功能：本系統(tǒng)具有12種自動保護(hù)聯(lián)鎖功能。
電源：AC380V10%50Hz7kVA

振動試驗(yàn)臺產(chǎn)品特點(diǎn)：
1．精密型設(shè)計(jì)制造、體積小、超靜音工作
2．機(jī)臺底座采用重型鋼材配減振膠墊，安裝方便，運(yùn)行平穩(wěn)，無需安裝地腳螺絲
3．進(jìn)口頻率控制器，數(shù)字化控制與顯示頻率，PID調(diào)節(jié)功能，使設(shè)備工作更為穩(wěn)定、可靠
4．控制參數(shù)實(shí)時(shí)同步顯示，無須人工干預(yù)。（各種控制條件，可于運(yùn)轉(zhuǎn)中監(jiān)視之）
5．內(nèi)嵌式振幅預(yù)測程序及調(diào)幅容易
6．四點(diǎn)同步激振，臺面振動均勻
7．無級調(diào)整振幅，定頻及掃頻操作功能適應(yīng)不同行業(yè)多種試驗(yàn)要求
8．增加抗干擾電路,解決因強(qiáng)電磁場對控制電路干擾
9．外觀美觀，操作便捷，人性化控制

振動試驗(yàn)臺技術(shù)參數(shù)：
1、頻率范圍：50HZ、1-600HZ、1-3000HZ、1-5000HZ
2、上下左右同一臺面臺體尺寸500×500×450:mm
上下左右前后同一個(gè)臺面臺體尺寸500×500×600:mm
3、振動波形：正弦波（半波/全波）
4、振動臺面尺寸500×500×10:mm
5、振幅范圍：0～4mm
6、大加速度：＜15g
7、承重量：75kg/60kg
8、時(shí)間設(shè)定范圍：1-65000S
9、運(yùn)行次數(shù)：1-65000次任意設(shè)定
10、頻率可顯示到0.01Hz、精密度0.1Hz
11、電源電壓：AC220V/50HZ、AC380V/50HZ

振動試驗(yàn)臺特點(diǎn)
1、數(shù)字顯示振動頻率；
2、同步靜噪皮帶傳動，噪聲及低；
3、試件夾裝采用導(dǎo)軌式，操作方便，；
4、機(jī)臺底座采用重型槽鋼配減振膠墊，安裝方便，運(yùn)行平穩(wěn)；
5、回轉(zhuǎn)式振動（俗稱跑馬臺）符合及國際運(yùn)輸標(biāo)準(zhǔn)；
振動試驗(yàn)臺使用方法
1、將機(jī)臺置于平整之地面，防振膠墊應(yīng)落實(shí)而不會出現(xiàn)前后、左右晃動，將機(jī)臺電源接牢。機(jī)器電機(jī)為兩 相電機(jī)，請與供電電源接牢；
2、打開機(jī)器電源開關(guān)，將試驗(yàn)所需時(shí)間設(shè)定好：HMS依次為H小時(shí)、M分鐘、S秒；表盤上‘+、—’，依序 將數(shù)字1-9拔到所需檔；
3、調(diào)動高速旋扭相應(yīng)轉(zhuǎn)速在顯示表上顯示，目視機(jī)臺運(yùn)行轉(zhuǎn)正常，將轉(zhuǎn)速調(diào)低，關(guān)掉電源；
4、將試件置于工作臺面，移動活動圍欄將試件固定于臺面位；
5、打開機(jī)臺電源，重啟機(jī)臺，調(diào)整相應(yīng)轉(zhuǎn)速，待試驗(yàn)時(shí)間到達(dá)設(shè)定時(shí)間后，停機(jī)檢驗(yàn)試件；
6、如需按ISTA-IA國際運(yùn)輸標(biāo)準(zhǔn)做測試，則需用隨機(jī)附帶之標(biāo)配塊置于試件（被測包裝件）下部，當(dāng)機(jī)臺運(yùn)行速度達(dá)到300rpm時(shí)，用手將標(biāo)準(zhǔn)塊從試件一側(cè)順利地推過試件底部；
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